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泰勒表面粗糙度儀Surtronic 25 操作手冊 TAYLOR HOBSON25粗糙度儀是泰勒公司在原來TAYLOR HOBSON 3+粗糙度儀的基礎(chǔ)上進(jìn)行改進(jìn)的一個新產(chǎn)品,該儀器適用于生產(chǎn)現(xiàn)場,可測量多種機(jī)加工零件的表面粗糙度,根據(jù)選定的測量條件計算相應(yīng)的參數(shù),在液晶顯示器上清晰地顯示出全部測量參數(shù)。
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泰勒霍普森白光干涉儀CCI MP 無論哪種零件、無論多快的分析速度,CCI MP均可保證三維面形測量結(jié)果的準(zhǔn)確性。配備1/10埃垂直分辨率的一百萬像素高性能攝像頭,可對非常粗糙到非常光滑的所有表面進(jìn)行細(xì)致全面的分析。功能豐富–可隨時用于生產(chǎn)運(yùn)營或研究項(xiàng)目時刻與研發(fā)人員和科學(xué)家的專業(yè)技術(shù)同步發(fā)展
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SURTRONIC S-100表面粗糙度儀性能提升 參數(shù)選項(xiàng),以適應(yīng)您的應(yīng)用 ●USB連接用于充電,USB存儲或打印 ●測量任何表面,任何高度與附帶的手寫筆電梯 ●防滑V腳是指系統(tǒng)可以在平面或曲面上使用 ●專為持久而設(shè)計,耐沖擊的橡膠模制品 ●2000次單次充電測量。
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Taylor Hobson Surtronic DUO 精密金屬加工市場和涉及高容差工程產(chǎn)品制造商的其他行業(yè)計量系統(tǒng)制造商。 系統(tǒng)包括廣泛的圓度和幾何測量儀器,用于測量圓度,直線度,平行度,圓柱度,同心度和方形度。 表面處理,表格和輪廓分析儀,三維表面紋理分析和便攜式粗糙度測試儀,用于測量多個表面紋理參數(shù)。
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Talysurf CCI Lite全自動光學(xué)3D形貌測量儀 The Talysurf CCI Lite 是一臺良好的光學(xué)干涉 儀,它采用了創(chuàng)新的,**的相關(guān)相干算法, 去尋找通過光學(xué)掃描得到的干涉圖象中的一致 點(diǎn)與相位The Talysurf CCI Lite 對于高精度的3D測量 而言是無價的,通過采用不同的物鏡頭,可 以檢測不同的表面,全自動的工作臺能適應(yīng) 高水平的靈活應(yīng)用。