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產(chǎn)品中心
| 品牌 | Mahr/德國馬爾 | 產(chǎn)地類別 | 進(jìn)口 |
|---|---|---|---|
| 應(yīng)用領(lǐng)域 | 化工,電子/電池,道路/軌道/船舶,航空航天,汽車及零部件 |
馬爾Mahr MarSurf M300測(cè)量范圍
MarSurf M 300粗糙度儀特點(diǎn)參數(shù)：
測(cè)量范圍可達(dá)350微米（0.014英寸）
單位um/μinch可選
標(biāo)準(zhǔn):ISO/ASME/JIS/MOTIF可選
移動(dòng)長(zhǎng)度依據(jù) DIN EN ISO 4288 / ASME B46.1： 1.75毫米，5.6毫米，17.5毫米（0.07，0.22，0.7）
依據(jù)EN ISO 12085：1毫米，2毫米，4毫米，8毫米，12毫米，16毫米
取樣長(zhǎng)度從1到5長(zhǎng)度可選
依據(jù)標(biāo)準(zhǔn)自動(dòng)選擇濾波器和截至長(zhǎng)度
符合DIN EN ISO 11562標(biāo)準(zhǔn)的相修整輪廓濾波器
截止波長(zhǎng)0,25毫米0,80毫米2,50毫米（0.010，在0.032，在0.100英寸）
自動(dòng)選著評(píng)定長(zhǎng)度
測(cè)量參數(shù)依據(jù):DIN/ISO: Ra, Rq, Rz, Rmax, Rp, Rpk, Rk, Rvk, Rv,Mr1, Mr2, A1, A2, Vo, Rt, R3z, RPc, Rmr, RSm, Rsk,JIS: Ra, Rz, RzJIS, Sm, S, tp,ASME: Rp, Rpm,MOTIF: R, Ar, Rx, W, CR, CL, CF
公差顯示和自動(dòng)記錄測(cè)量結(jié)果
自動(dòng)或可調(diào)縮放比例
打印R輪廓（ISO/ASME/JIS），P輪廓（MOTIF）材料彎曲率，測(cè)量結(jié)束，
日期和/或測(cè)量的時(shí)間：zui大可儲(chǔ)存40,000個(gè)測(cè)量結(jié)果和30個(gè)外形輪廓
動(dòng)態(tài)校準(zhǔn)功能：鎖定/或儀器設(shè)置密碼保護(hù)
篤摯儀器主要經(jīng)營馬爾Mahr MarSurf M300測(cè)量范圍：
EPK壁厚測(cè)厚儀MiniTest FH7200 FH4探頭 測(cè)頭FH 4.1 EPK壁厚測(cè)厚儀MiniTest FH7400 EPK涂層測(cè)厚儀探頭Printer MiniPrint7000 A/B掃描超聲波測(cè)厚儀DMS2E/DMS2/DMS2TC 超聲波測(cè)厚儀TT130 超聲波測(cè)厚儀TT120 高精密超聲波測(cè)厚儀PX-7DL 高精密超聲波測(cè)厚儀PX-7 A/B掃描高精密超聲波測(cè)厚儀PVX 超聲波測(cè)厚儀TT100 高精密超聲波測(cè)厚儀CL400探頭 帶A/B掃描功能的超聲波測(cè)厚儀MVX 高精密超聲波測(cè)厚儀CL5 超聲波測(cè)厚儀TT110 超聲波測(cè)厚儀MMX-6 A/B掃描超聲波測(cè)厚儀DMS Go 水下超聲波測(cè)厚儀UMX-2 超聲波測(cè)厚儀MMX-6DL 一體化超聲波測(cè)厚儀PocketMIKE 超聲波測(cè)厚儀PosiTect0rUTG Std 超聲波測(cè)厚儀MX-3 超聲波測(cè)厚儀MX-5 超聲波測(cè)厚儀PosiTect0rUTGME 超聲波測(cè)厚儀MX-5DL 超聲波測(cè)厚儀DM5E Basic 超聲波測(cè)厚儀DM5E 超聲波測(cè)厚儀DM5EDL 濕膜測(cè)厚儀WetTest 德國EPK GalvanoTest小樣品夾具 德國EPK庫侖鍍層測(cè)厚儀GalvanoTest 2000 超聲波涂層測(cè)厚儀PosiTector200 庫侖鍍層測(cè)厚儀GalvanoTest 3000 涂層測(cè)厚儀
