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品牌 | TaylorHobson/英國泰勒霍普森 |
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TAYLOR小型粗糙度儀Surtronic S116出廠原裝
TAYLOR小型粗糙度儀Surtronic S-116屬于Surtronic S100 系列產品,集良好的精密技術和低價值于一體,儀器應用廣泛,測量靈活高效,可用于測量多種工件,其中包括無法接近或不易移動的工件。還可以在任何表面, 任何高度進行測量,配備的4.3寸大尺寸觸屏,容量大,顯示信息一目了然,方便閱讀和操作??稍谲囬g、檢測室或實驗室內對表面粗糙度進行有效的測量。
持久性:多樣化的系統(tǒng)和應用相關的配件,滿足您的特殊需求,大容量鋰聚合物電池, 一次充電后可進行至少2000次測量,充滿電后待機能力長達5000個小時。
堅固耐用:耐沖擊性橡膠化塑性整個機身, 聚脂薄膜保證了觸摸屏的持久耐用性,抗磨損的齒輪和軸承堅固的不銹鋼驅動機構。
測量范圍:200 um 100 um 10 um
分辨率: 100 nm 20 nm 10 nm
底噪(Ra):250 nm 150 nm 100 nm
重復精度 (Ra) :1%測試值+底噪
傳感器原:電感
測量力:150-300mg
測針針尖半徑:標配5 μm (200 μin) 可選2μm(80μin)或10μm(400μin)
測試參數(shù):
三個取樣長度:0.25mm、0.8mm、2.5mm
二個濾波器:2CR、Gaussian
評定長度:0.25mm - 12.5mm (0.01 in - 0.49 in)可選
zui大行程:17.5mm
執(zhí)行標準:ISO 4287,ISO13565-1,ISO13565-2,ASME46.1, JIS0601, N31007
ISO標準可以測量12個參數(shù): Ra, Rv, Rp, Rz, Rt, Rq, Rsk, Rmr, Rdq, Rpc, RSm, Rz1max
ASME標準可以測量11個參數(shù):Ra, Rv, Rp, Rz, Rt, Rq, Rsk, Rdq, RSm, Rpm, Rda
JIS標準可以測量14個參數(shù):Ra, Rv, Rp, Rz, Rt, Rq, Rsk, Rmr, Rdq, RSm, RzJIS, Rc, Rku, Rdc
篤摯儀器(上海)有限公司擁有源自美國、英國、德國等多地區(qū)的合作伙伴,憑借種類齊全的產品資源和服務,涵蓋光學儀器、測量儀器、無損檢測、實驗儀器、分析儀器、量具量儀等各類檢測設備,努力為客戶解決日新月異的測量分析技術挑戰(zhàn),共同提供定制化精密測量和性能分析系統(tǒng)解決方案,有效推動企業(yè)實現(xiàn)既定目標。